产品简介
详细说明
OPTIV PERbbbbANCE / M 系列 高精度复合式影像测量仪
双Z轴测量技术，可灵活选配多种传感器及转台配置，满足多任务测量需求。
机器型号：
OPTIV M 3.2.2
OPTIV M 4.4.3
OPTIV M 6.6.3
OPTIV M 6.6.4
OPTIV M 4.4.3 Dual Z
OPTIV M 6.6.3 Dual Z
OPTIV M 6.6.4 Dual Z
OPTIV PERbbbbANCE 4.4.2
OPTIV PERbbbbANCE 6.6.2
专利双Z轴复合式测量技术，实现亚微米范围内的测量精度，开创影像精密测量的技术新高。光学测量和接触测量结合在一个系统中，使得复合式影像测量仪极大限度地提高了测量效率和应用的灵活性。PERbbbbANCE / M 还配备双Z轴技术，进一步缩短了检测周期，降低检测成本，提高测量结果可靠性。
集多传感器于一身，完成复杂的测量任务
Optiv PERbbbbANCE / M 系列影像测量仪被广泛的应用于: 3C电子、半导体、精密机械、医疗、航空航天、计量院所等行业。
1) CCD影像:
对小、薄、软、精密的被测特征进行非接触测量避免形变。
2) CWS白光:
对柔软、反射或低对比度的表面进行亚微米精度级别的测量。
3) 接触式扫描:
对影像无法完成无法识别的三维特征进行单点触发和连续扫描测量。
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