一、JIMA RT RC-05B详细介绍：
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JIMA RT RC-05B是一款采用最新半导体光刻技术制作的微型分辨率测试卡。
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它用于校准和监控系统分辨率，确保微焦点或纳米焦点X射线检测系统获得高质量的结果。
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JIMA RT RC-05B支持3微米至50微米（3 μ m至50 μ m）的分辨率。这对应于6微米和100微米（6 μ m和100 μ m）之间的焦斑尺寸。

二、应用：
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修复 X 射线系统操纵器上的分辨率测试。选择探测器、样品和试管的距离，以实现高几何放大倍率。
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选择所需的 X 射线参数。将分辨率测试放置在管的前面，使线条图案可见。使用操纵器移动测试图，以便看到下一个较小的线对束。
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只要线条清晰可见，就继续。焦点大小近似计算为小分辨率乘以 2。
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注意：尽量减少辐射的持续时间。在手术过程中关闭 X 射线。目标前面的热量可能会损坏测试图。

三、技术参数：
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狭缝尺寸：3、4、5、6、7、8、9、10、15、20、25、30、35、40、45 和 50 微米
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测试框架尺寸：40 x 30 x 3 mm (WxHxD)
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芯片尺寸：8 x 8 x 0.2 mm (WxHxD)
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吸收材料厚度 gt;1.0 μm 金
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Au Slit的数量为3行和2个空格
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宽度3至10 μm：T形布局
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宽度15至50 μm：I形布局L/S宽度
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L/S宽度：3、4、5、6、7、8、9、10、15、20、25、30、35、40、45、50 μm

图片：