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美国GE超声波探头
美国GE超声波探头
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上架日期:2021-03-23 21:09:07
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详细说明
    品牌:GE 型号:IAP-..25.3.2 频率:0.25M Hz
    功率:10 W 破碎容量:12 ml 占空比:20
    电源:3 V 外形尺寸:9*9 mm 重量:0.03 kg
    用途:超声波探头
    美国GE超声波探头

    美国GE超声波探头 主要特性: •单晶探头用于超声脉冲的发射和接收 •通过水延迟通道进行纵波或横波的垂直或斜向扫描(非接触测试) •完全不漏水的版本设计,或者带有固定的连接电缆,或者带有水密封的连接插座(除Microdot外) •牢固的金属盒 •用通常采用的线聚焦和点聚焦方式增加了缺陷识别的能力 •使用具有较高频率的聚合物探头,从而对非常小的非均匀性具有非常高的探测能力。



    A-..IAP-..:用于由金属和非金属材料制成的零部件中*小缺陷的探测,有非常高的分辨率,这些缺陷在零部件表面下分布展开:例如半导体基体、电气插头和表面保护层中的材料分离、气孔和杂质等。同样地,它还可以应用于扩散焊接、电阻焊接和粘合焊接等的测试,以及由陶瓷、粉末金属、钛和其它合金制成的预制成型零部件的测试。

    接触式和水浸式接触法探头

    直射线---单晶

    •被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面

    •接触面或平或曲

    •缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测

    •透透厚部件

    •逐步块改善提高近场分辨率

    •需要聚合层,一般为凝胶,油类,浆糊

    •通常用于手动检测

     

    直探头---双晶

    •接受发射单元用串扰挡板分开

    •缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测

    •近表面分辨率好,用于较薄部件

    •需要聚合层,一般为凝胶,油类,浆糊

    •通常用于手动检测

     

    斜探头

    •芯片安装在内置的或可更换的斜块上

    •利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播

    •大多数标准探针通过模式转换产生横波

    •有所倾斜的缺陷的检测,如焊缝

    •有单晶探头和双晶探头

    •需要聚合层,一般为凝胶,油类,浆糊

    •有时用于机械化或自动化检测2个换能器选择标准和性能



    压电高聚物高频直探头 特性:非常高的分辨率,聚焦声束宽度非常小
    IAP-..25.2.0.5
    IAP-..25.2.1
    IAP-..25.3.1
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    IAP-..50.2.0.3
    IAP-..50.2.0.5
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    IA-..25.2
    IA-..25.3
    IA-..50.2
    IA-..50.3
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